影響液晶的性能的主要參數(shù)及測(cè)試判定方法

清亮點(diǎn)；折射率Δn；閥值電壓；純凈度；粘滯常數(shù)K；介電常數(shù)ε；螺距ρ 

液晶的工廠自適應(yīng)測(cè)試方法及判定標(biāo)準(zhǔn)： 
電阻率：

A、測(cè)試方法：用高阻計(jì)測(cè)試待測(cè)液晶的電阻值。 
B、判定標(biāo)準(zhǔn)：測(cè)試結(jié)果在產(chǎn)品要求范圍之內(nèi)（本廠標(biāo)準(zhǔn)≥8X107）。 

光電性能:

A、測(cè)試方法：試灌產(chǎn)品，并測(cè)試其光電性能。 
B、判定標(biāo)準(zhǔn)：測(cè)試樣品Von、Voff值與供應(yīng)商參數(shù)相符，視角、對(duì)比度、底色符合生產(chǎn)產(chǎn)品要求。 

清亮點(diǎn)：

A、測(cè)試方法：把待測(cè)液晶加熱，測(cè)量其達(dá)到清亮點(diǎn)時(shí)的溫度。 B、判定標(biāo)準(zhǔn)：測(cè)量結(jié)果溫度與供應(yīng)商提供的清亮點(diǎn)溫度一致。 

耐紫外線性能：

A、測(cè)試方法：把待測(cè)液晶試作產(chǎn)品，平放在封口UV機(jī)下，按封口工藝規(guī)定的UV強(qiáng)度和時(shí)間照射兩次，測(cè)試其照射前后的光電性能變化。 
B、判定標(biāo)準(zhǔn)：經(jīng)UV照射后，Voff值上升在0.1V以內(nèi)（低電壓液晶在0.15V以內(nèi)），電流值變化在2倍以內(nèi)，對(duì)比度下降不明顯為合格。 
可靠性:A、測(cè)試方法：把待測(cè)液晶試作產(chǎn)品并測(cè)試其可靠性性能。 B、判定標(biāo)準(zhǔn)：經(jīng)可靠性試驗(yàn)后光電性能變化在產(chǎn)品要求范圍之內(nèi)